Technical Research Services > Available teams > Scanning Electron Microscopy (SEM)
Go to content (click on Intro)
UdG Home UdG Home
Close
Menu
Machine translation, text awaiting revision

Serveis Tècnics de Recerca

Microscòpia electrònica de rastreig

(MER)

La microscòpia electrònica de rastreig (Scanning electron microscopy SEM) consisteix a resseguir la superfície de la mostra amb un feix d’electrons enfocat. Proporciona unes imatges de la mostra d’alta resolució i elevada profunditat de camp. El SEM és una de les eines més utilitzades per proporcionar imatges amb molt detall. Associat a un detector de raig X per separació d’energies (energy dispersive x-ray spectoscopy EDS) ofereix una identificació de quasi bé tots els elements de la taula periòdica.

És una eina molt útil quan el microscopi òptic no arriba a donar la resolució que l’usuari necessita.

Podem oferir atenció personalitzada. L’usuari es convidat a acompanyar al tècnic en la realització de l’estudi. Això fa que augmenti la confiança i es garanteixi la confidencialitat del procés.

Microscopi Electrònic de Rastreig TESCAN CLARA

Sol·licitud de treball

Per tal de sol·licitar l'anàlisi d'una mostra per MER, us heu de posar en contacte amb el personal responsable de l'equip, o bé enviant un correu-e a um.str@udg.edu, o bé trucant al 649 30 70 34 (Carme).

Cal informar de la toxicitat, precaucions d’emmagatzematge i un cop entregats els resultats, si no es ve a buscar la mostra al cap d’una setmana, el restant d’aquesta serà destruïda.

Característiques de l'equip

Microscopi electrònic de rastreig TESCAN CLARA

Any :
2024
Resolució:

0.9 nm a 15 kV
Voltatge d’acceleració:
30kV
Augment útil:
 x 1.000.000
Registre fotogràfic:
Imatge digitalitzada de fins a 16384 x 16384 píxels
Detectors:
· electrons secundaris (SE)
· electrons retrodispersats (BSE)
· electrons secundaris a baix buit (GSE)
· electrons per transmissió de rastreig (STEM)
· raig X per separació d’energies (EDX)

Característiques :
  • Sistema de microanàlisi de raig X per separació de energies (EDX) Bruker X Flash 7
  • Resolució: 129 eV (Mn Ka, 1000 cps)
  • Detector: Silicon drift droplet detector (SD3) amb finestra ultrafina de Beril·li.
  • Detecta elements de numero atòmic igual o superior 6 (C)
  • Sistema de baix buit fins 500 Pa
  • Platina refrigerada fins -50 ºC
  • Aparells complementaris per a la preparació de mostres
  • Equipament informàtic associat

Com funciona?

  • La mostra ha de resistir el buit de l’interior de l’aparell.
  • La mostra ha de ser conductora. En cas contrari, s’ha de sotmetre a procediments d'evaporats metàl·lics per fer-la conductora.
  • La mida de la mostra ha de ser compatible amb les dimensions del portamostres. Podem introduir mostres de fins a 8 cm2 i 1Kg de pes. Per això, a vegades necessitem tallar-la.
  • Obtenir la resolució que oferim tot sovint queda condicionada ( limitada) per les característiques de la mostra i la seva preparació.
  • Moltes d’aquestes limitacions es resolen amb l’adequada preparació de la mostra. 

Avantatges de la tècnica

  • Molt bon mètode d’anàlisi qualitatiu no destructiu de la mostra analitzada.
  • Rapida obtenció de l’anàlisi (100 seg).

Limitacions de la tècnica

  • La mostra ha de resistir el buit de l’interior de l’aparell.
  • Alguns materials no són estables al feix d’electrons.
  • Límit de detecció condicionat a la homogeneïtat de la mostra.
  • En cas de voler fer un anàlisi EDX i haver de recobrir la mostra amb un evaporat de Carboni, per fer-la conductora, pot afectar a la quantificació de C propi de la mostra.
  • Sensibilitat limitada pels elements de baix numero atòmic.
  • Anàlisi semi quantitativa per a mostres que no són planes, polides o homogènies.

Aplicacions / Casos pràctics

  • Obtenció d’imatges amb alta resolució
  • Microanàlisi elemental i caracterització de partícules
  • Elevada profunditat de camp. Tota la imatge es veu enfocada.

Camps d'aplicació

  • Biologia i Medicina: Estudis ultraestructurals de teixits i òrgans d’essers vius i les seves patologies. Immunolocalització
  • Geologia: Estudis mineralògics, cristal·logràfics y petrològics.
  • Caracterització de materials: Estudis estructurals en materials com metalls, polímers, semiconductors, ceràmiques, etc.
  • Metal·lúrgia: Control de qualitat. Estudis de corrosió, fissures, dipòsits i fractures.
  • Restauració: Estudis estructurals i químics en obres d’art. Degradació i caracterització en monuments.
  • Control de qualitat i de manteniments en l’industria: Estudis en sistemes de depuració d’aigües. Estudis de superfícies: corrosió, fissures, dipòsits, etc. Avaluació i verificació de les característiques tècniques del producte subministrat o elaborat.
  • Arqueologia i Paleontologia: Eines arqueològiques. Estudis forenses Estudi de dents arqueològiques per determinar la seva alimentació.. Paleobotànica.
  • Peritatges i aplicacions forenses.

Més informació:

Choose which types of cookies you accept which the University of Girona can store in your browser.

Those that are essential for enabling your connection. There is no option for disabling them, as they are necessary for the functioning of the website.

These enable your options to be remembered (for example language or region you are accessing from), to provide you with advanced services.

They provide statistical information and enable improved services. We use Google Analytics cookies which you can deactivate by installing this plugin.

To offer advertising contents relating to the interests of users, either directly, or through third parties (“adservers”). These must be activated if you wish to see the YouTube videos uploaded to the University of Girona’s website.

The University of Girona website uses its own and third-party cookies for technical and analytical purposes. To manage them use the manager. If you would like further information, please access our Cookies Policy.