1. Tema 1. CONCEPTES GENERALS DE MICROSCÒPIA.
Unitats més utilitzades en microscòpia. Distància mínima de visió nítida, àngle mínim de visió nítida i distància mínima de resolució. Propietats de les lents. Poder de resolució, distància mínima de resolució, obertura numèrica i distància focal d'una lent. Augment total del microscopi. Camp, horitzontalitat de camp i profunditat de camp. Aberracions de les lents. Correcció de les aberracions.
2. Tema 2. MICROSCÒPIA ÒPTICA DE CAMP CLAR. Microscopi òptic convencional (MO): part mecànica i part òptica, sistema d'il.luminació i complements. Microscopi estereoscòpic. Microscopi invertit. Aplicacions de la microscòpia òptica convencional.
3. Tema 3. ALTRES MODALITATS DE MICROSCÒPIA ÒPTICA. Microscòpia de contrast de fases. Microscòpia de camp fosc. Microscòpia de polarització. Microscòpia de contrast interferencial de Nomarski. Microscòpia de fluorescència. Microscòpia confocal.
4. Tema 4. MÈTODES DE MESURA: MICROMETRIA. Mesures lineals. Recomptes. Mesures digitals.
5. Tema 5. MÈTODES DE PREPARACIÓ DE MOSTRES PER A MO. Preparacions "in vivo". Frotis i seccions. Fixació. Inclusió. Microtomia. Tècniques de coloració. Muntatge.
6. Tema 6. MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA DE TRANSMISSIÓ. Fonament de la microscòpia electrònica. Elements d'un microscopi electrònic de transmissió (TEM). Complements.
7. Tema 7. MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA DE RASTREIG. Principis bàsics de la microscòpia electrònica de rastreig. Elements d'un microscopi electrònic de rastreig (SEM). Sistema operatiu del SEM.
8. Tema 8. PROCESSAMENT DE MOSTRES PER A TEM. Contrastat positiu: fixació, deshidratació, imbibició i inclusió, piramidotomia i ultramicrotomia, contrastat. Contrastat negatiu: tipus de contrastants negatius.
9. Tema 9. PROCESSAMENT DE MOSTRES PER A SEM. Fixació. Deshidratació. Assecat. Muntatge. Metal·lització.
10. Tema 10. ALTRES MODALITATS DE MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA. Microscòpia electrònica d'alta resolució (HRTEM,HRSEM), Microscòpia electrònica d'alt voltatge (HVEM). Microscòpia electrònica de voltatge intermedi (IVEM). Microscòpia electrònica de transmissió-rastreig (STEM). Microscòpia electrònica per a rastreig ambiental.
Tan en primera com en segona convocatòria la qualificació final de l'assignatura resulta de l'avaluació dels continguts teòrico-pràctics.
L'aprenentatge s'avaluarà mitjançant una prova escrita del tipus d'elecció múltiple; així mateix, aquesta prova podrà incloure també altres tipologies de preguntes, com: taules comparatives i esquemes o figures a completar. En aquest tipus de prova les respostes incorrectes penalitzaran en el càlcul de la nota; concretament, per a cada pregunta hi haurà quatre respostes possibles de les quals només una serà correcta. Per a la correcció s'aplicarà la fórmula següent: nombre de respostes correctes - 1/4 del nombre de respostes incorrectes /10.
Criteris específics de la nota «No Presentat»:
S'obtindrà la qualificació de NO PRESENTAT en el cas de no realitzar l'examen global en primera ni en segona convocatòria.